设备能力：
球差校正透射电子显微镜是一种分辨率高于透射电镜的电镜测试仪器；分析原理：球差是像差的一种，是影响TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，无论是光学透镜还是电磁透镜，其透镜系统都无法做到完美。光学透镜中，可通过将凸透镜和凹透镜组合使用来减少由凸透镜边缘汇聚能力强中心汇聚能力弱所致的所有的光线(电子)无法会聚到一个焦点的缺点，可对于电磁透镜，我们没有凹透镜，球差便成了影响TEM分辨率最主要也最难解决的问题。用球差校正装置扮演凹透镜修正球差的透射电镜即为球差透射电镜，消除了一些透射系统中存在的球面像差，将透射电镜的分辨率提高到了亚埃极（0.06nm）。：
形貌观察：对各种材料内部微结构进行二维显微形貌观察，包括常见的粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察；配合三维重构可以得到三维立体形貌；
结构分析：利用选区电子衍射、高分辨透射图像、高分辨扫描透射图像等分析材料的结构；
成分分析：配合能谱仪可以对样品元素做点、线、面、体分布分析，可以得到原子分辨率的元素面分布图像。
可做项目：TEM，STEM，EDS，Mapping，SAED，EELS。
样品要求：
1. 块体用FIB制样，厚度30nm左右；粉末提供10mg左右；
2. 纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样；
3. 含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性。
案例：
