设备能力：形貌、能谱点扫、能谱线扫、能谱面扫（mapping）、EBSD、CL、TKD
样品要求：导电性良好，粉末，块体薄膜均可，磁性样品需要提前说明，强磁性无法测试。
样品导电性不好是需要喷金或者喷碳。
案例：
