设备能力：深度分析，定量分析
样品要求：
1. 制样说明
（1）薄膜、片状、块体：长×宽尺寸约10 mm × 10 mm~12 mm × 12 mm，厚度不大于5mm；
（2）粉末样品最好压片后送样。压片时使用清洁的铝箔包裹粉末样品，以避免在加压过程样品表面被污染,压片后的尺寸要求见（1）条。
2. 样品要求
（1）尽量保持样品上下表面平整（尤其待测面，越平整越好）；
（2）通过溶液涂膜方法制备薄膜样品时，最好使用表面平整的导体或半导体作为衬底，例如：Si片， 镀金的Si片，或银片等。
案例：
