设备能力：
1.常规XRD谱图测试
2.物相分析、应力测定、变温XRD
3.摇摆曲线
4.X射线单晶衍射图谱
5.倒易空间
样品要求：
1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品、液体样品可以涂在载玻片上干燥之后测试。
2. 粉末样品：颗粒一般不超过75微米，手摸无颗粒感，较大需要适当研磨，样品用量一般0.5g以上。
3. 块状、薄膜样品：（1）至少有一表面为平整光洁平面。（2）若为立方体则平面长宽≤20mm，且厚度范围50微米～15毫米；（3）若为圆柱体则直径≤20mm，高≤15mm；
案例：
