设备能力：
1. XPS可以做的项目：常规全谱窄谱测试、俄歇谱、价带谱、深度溅射、MAPPING、角分辨
2. XPS测试的元素范围是Li-Cm，H、He元素不能测试
3. XPS数据分析可以等到元素的价态及半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号
样品要求：
1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品
2. 粉末样品：20-30mg
3. 块状、薄膜样品：块体/薄膜样品尺寸小于5*5*3mm
案例：
