设备能力：高分辨形貌、电子衍射、EDS、Mapping等
样品要求：
1，粉体、液体、可测试，薄膜或块状样品不能直接拍摄，需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）；
2，样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可适当研磨至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）；
3，一般制样选微栅铜网即可，如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；样品含Cu，需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或钼网
粉体需5mg左右，需要是纳米级颗粒，粒径较大的可提前研磨寄送；液体1ml以上，如是分散的液体，尽量浓度稍大一些，测试老师可以根据实际情况稀释拍摄；
案例：
