设备能力：
用于半导体材料或块体材料（薄层电阻）的专用仪器；可用于测试硅晶片及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、金属薄膜等材料的电阻和方块电阻。
1、固体导体的电阻率可以通过欧姆定律和电阻定律测量；
2、测试得到的电阻可以通过换算得到电导率；
3、电导和电阻的关系，如果R是电阻（单位欧姆Ω），电导为G（单位西门子S），则：G = 1/R；
4、电阻=方阻x膜厚；
样品要求：
1.粉末样品需压片测试，质量大于50mg 或者体积大于2-3ml；
2.薄膜，提供准确膜厚，厚度均匀；
3.块体上下平行，最好抛光处理；
4.常温样品尺寸直径或者长度最少10mm；
5.变温样品尺寸小于10x10mm，厚度大于0.3mm小于2mm；
6.表面整洁，不污染探针；
案例：