设备能力：
TGA为热失重分析，即在温度不断变化的情况下通过仪器测定其重量的变化。常用的测量的原理有两种，即变位法和零位法。所谓变位法，是根据天平梁倾斜度与质量变化成比例的关系，用差动变压器等检知倾斜度，并自动记录。零位法是采用差动变压器法、光学法测定天平梁的倾斜度，然后去调整安装在天平系统和磁场中线圈的电流，使线圈转动恢复天平梁的倾斜，即所谓零位法。由于线圈转动所施加的力与质量变化成比例，这个力又与线圈中的电流成比例，因此只需测量并记录电流的变化，便可得到质量变化的曲线。
样品要求：
1. 样品量尽可能多一点，因为很多样品在离心管内不太好取样，虽然很多样品我们只加3~5mg甚至更少，但是要保证能取出来10mg以上，最好提供不少于20mg样品；
2. 不同的目的用量不一样，比如小分子晶体测熔点1mg甚至0.5mg都有很好的效果；高分子的玻璃化转变需要10mg甚至20mg样品也未必有好的结果；
3. 块状物质能够裁剪就行，坩埚尺寸是4*125px；
4. 薄膜样品大小不限，能裁剪就可以；
5. 液体样品一般是看质量，至少5mg。
案例：