原子力显微镜AFM 椭偏仪 透射电子显微镜（TEM） 台阶仪 扫描电子显微镜 金相显微镜 光学显微镜 白光干涉仪

碳硫分析仪 离子色谱（IC） 氮氢氧分析仪 X射线荧光光谱（XRF） X射线衍射仪（XRD） X射线光电子能谱（XPS） 紫外光电子能谱（UPS） 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS） 二次离子质谱（SIMS） 电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES） 电感耦合等离子质谱（ICP-MS） 辉光放电质谱仪（GD-MS） 气相色谱质朴联用（GC-MS） 元素分析仪（EA）

液体核磁 拉曼光谱（Raman） 红外光谱（FTIR） 固体核磁 紫外可见光谱（UV/VIS） 荧光光谱（PL） 液相色谱（HPLC） 凝胶渗透色谱（GPC） 气相色谱（GC）

压汞（MIP） 四探针测试 塞贝克系数 热导率 接触角测试 激光粒度分析仪 霍尔测试（Hall） 磁滞回线（VSM） 表面光电压谱 比热 Zeta电位 化学吸附/脱附（TPD/TPR） 同步热分析（TG-DSC） 热重（TG） 综合物性测量系统（PPMS） 电磁顺磁/自旋共振（ESR/EPR） 差式扫描量热分析（DSC） 比表面积及孔径分析（BET）

万能试验机 纳米压痕/划痕 高温硬度 表面张力 动态热机械分析仪（DMA）

芯片磨抛/金相加SEM 芯片解理

水质检测

紫外曝光 激光直写 电子束曝光（EBL） 步进式曝光机

干法刻蚀

电镀 磁控溅射 PECVD LPCVD ICP-PECVD ALD

砂轮划片 激光划片

离子注入

球差电镜

聚焦离子束扫描电镜（FIB）

原位拉伸SEM

纳米CT

未知物解析